**装备及电工电子产品检测

**装备及电工电子产品检测：电子领域检测服务，常见项目25项，包括冲击试验、温度冲击试验等，依据GB/T 2423.34等公开标准执行。

检测项目

力学性能

热学性能

化学性能

盐雾试验

耐久性能

霉菌试验

• 冲击试验
• 温度冲击试验
• 可靠性试验
• 温度冲击（温度变化）
• 交变湿热试验
• 低温试验
• 恒定湿热试验
• 温度-高度试验
• 高温试验
• 温度变化试验
• 温度-振动试验
• 湿热试验
• 低气压（高度）试验
• 加速度试验
• 振动试验
• 酸性大气试验
• 颠震试验
• 密封试验
• 碰撞试验
• 可焊性
• 淋雨试验
• 炮振试验
• 联合试验

检测范围

检测范围覆盖电子领域常见产品类型；样品数量、状态与预处理要求按所引标准执行。

检测方法

微生物培养计数法：将样品接种于适宜培养基，经恒温培养后计数菌落形成单位，评价微生物污染水平

生化鉴定法：对可疑菌落进行生理生化试验，鉴定微生物种类

摆锤冲击试验：测定冲击吸收功，评价材料韧性

低温冲击试验：在设定低温下进行冲击，评估韧脆转变行为

检测仪器

• 恒温培养箱
• 生物安全柜
• 高压蒸汽灭菌器
• 菌落计数器
• 生物显微镜
• 冲击试验机
• 低温槽
• 落锤冲击试验机

检测标准

常用标准与依据如下，所引标准如遇更新、替代或废止，以现行有效版本为准：

GJB150.11A-2009 **装备实验室环境试验方法第11部分：盐雾试验

GJB150.4-1986 **设备环境试验方法 第4部分：低温试验

GJB150.18A-2009 **设备环境试验方法冲击试验 程序Ⅰ、程序Ⅴ

GJB150.11-1986 **设备环境试验方法盐雾试验

GJB 150.11-1986 **设备环境试验方法 第11部分 盐雾试验

GJB 150.20A-2009 **装备实验室环境试验方法 第20部分：炮击振动试验 GJB150.20A-2009

GB/T 2423.34-2012《环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AD：温度/湿度组合循环试验》

GB/T 2423.25-2008《电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AM：低温/低气压综合试验》

GJB150.3A-2009 **装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验

GJB 150.16-1986 《**设备环境试验方法 振动试验》

GJB367A－2001 **通信设备通用规范 4.7.29

GJB 150.3-1986 《**设备环境试验方法 高温试验》

GJB 150.3A-2009 《**装备实验室环境试验方法. 第3部分:高温试验》

GB/T 2423.56-2006《电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fh：宽带随机振动（数字控制）和导则》

GJB150.24A-2009 **装备实验室环境试验方法 第24部分：温度-湿度-振动-高度试验

GB/T 2423.17-2008《电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ka：盐雾》

GJB150.10-1986 **设备环境试验方法 霉菌试验

GB/T 2423.5-1995《电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ea和导则：冲击》

GJB150.9-1986 **设备环境试验方法 第9部分：湿热试验

GB/T 2423.35-2019《环境试验 第2部分：试验和导则 气候(温度、湿度)和动力学(振动、冲击)综合试验 》

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。