微区分析检测
微区分析检测：电子产品检测项目与标准依据说明，常见项目33项，包括微区成分与结构、成分等。
检测项目
微区成分与结构、成分、微区成分、微区成分（可测元素：6C～92U）、微区成分(可测元素范围：4Be～92U)、微区表面成分、微区成分分析、微区成分（可测元素：）、微区成分定量分析、微区成分（可测元素：原子序数B5～U92）、微区成分（4Be-92U）
化学性能
- 纳米粒度分布
- 微观粒度分析
- 微观长度分析
- 覆盖层厚度分析
- 微米级长度测量
- 粒度分析
- 微米粒度分析
- 电子探针分析
- X射线光电子能谱分析
- 微束分析能谱法定量
- 微区形貌
- 微区形貌分析
- 微区成份分析
- 微区结构分析
- 微区元素定性分析
- 结构
- 微区结构
- 微观尺度
- 微区元素定量分析
- 粒径分布
- 粒径
- 微区电子衍射
- 形貌分析
- 粒径分析
- 微区成份
- 表面能谱分析
- 微区形貌结构
- 微区形貌及微纳米尺度
- 高分辨像
- 微区分析
- 微区
- 表面元素分析（除H、He之外的所有元素）
检测范围
检测范围覆盖电子领域常见产品类型；样品数量、状态与预处理要求按所引标准执行。
检测方法
筛分法/激光衍射法：测定颗粒粒度分布
刮板细度计法：测定涂料细度
测厚法：千分尺或非接触方式测量厚度
称重法：测定单位面积质量
检测仪器
- 标准筛
- 激光粒度仪
- 刮板细度计
- 千分尺
- 测厚仪
- 电子天平
检测标准
常用标准与依据如下，所引标准如遇更新、替代或废止，以现行有效版本为准：
GB/T 31563-2015《覆盖层厚度分析》
GB/T 15074-2008《电子探针定量分析方法通则》
GB/T 20307-2006《纳米级长度的扫描电镜测量方法通则》
JY/T 0581-2020 《透射电子显微镜分析方法通则》
GB/T 17359-2012《微束分析 能谱法定量分析》
GB/T 18907-2013《微区形貌结构》
JY/T 011-1996 形貌分析
GB/T 17722-1999《金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法》
JY/T010-1996 分析型扫描电子显微镜方法通则
JY/T 0573-2020 微区结构分析
JY/T0581-2020 透射电子显微镜分析方法通则
JY/T0584-2020 扫描电子显微镜分析方法通则
GB/T 30703-2014《微区形貌、结构》
GB/T 13221-2004《纳米粉末粒度分布的测定 X射线小角散射法》
GB∕T 15074-2008 微区成分定量分析
GB/T 16594-2008《微米级长度的扫描电镜测量方法通则》
JY/T0573-2020 激光拉曼光谱分析方法通则
GB/T 20725-2006《波谱法定性点分析电子探针显微分析导则》
JY/T0568-2020 扫描探针显微镜分析方法通则
检测说明
本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。
