LED器件检测
LED器件检测：常见项目10项，包括低温试验、恒定湿热试验等；适用标准以GB/T 2423.18等现行有效版本为准。
检测项目
热学性能
化学性能
盐雾
- 低温试验
- 恒定湿热试验
- 温度变化
- 湿热循环
- 高温试验
- 光谱
- 光通量
- 平均光强
- 电性能
检测范围
适用于电子领域常见产品与材料的送检；样品要求依适用标准规定，委托前可确认取样数量与状态。
检测方法
盐雾试验：连续或交变喷洒盐水雾，考核涂层耐腐蚀性能
恒定/交变湿热试验：在规定温湿度条件下保持，评价耐湿热性能
光谱分析法：按吸收/发射特性对组分进行定性与定量
检测仪器
- 盐雾试验箱
- 恒温恒湿试验箱
- 湿热试验箱
- 红外光谱仪
- 紫外-可见分光光度计
- 荧光光谱仪
检测标准
常见适用标准如下；标准存在更新或替代时，以委托时现行有效版本为准：
GB/T 2423.18-2012
EN 60068
GB/T 2423.1-2008
IEC 60068
JESD 22-A108F:2017 温度、偏置、工作寿命 JESD22-A108F:2017
JEITA ED- 4701/200A：2013 半导体设备的环境耐受性测试方法（寿命试验II） JEITA ED-4701/200A：2013
MIL-STD-202H 2015 电子和电子元器件部件测试方法标准 MIL-STD-202-107
JESD22-A108F-2017 温度、偏置、工作寿命 4.2.3.2
JEITA ED-4701/200A :2013 半导体设备的环境耐受性测试方法（寿命试验II） 附录202A
CIE 127-2007 LED测量方法 CIE 127-2007
GB/T 2423.2-2008
JESD22-A108F:2017 温度、偏置、工作寿命 4.2.3
CIE 127-2007 LED测量方法 7
GB/T 2423.34-2012
JEITA ED- 4701/100A:2013 半导体设备的环境耐受性测试方法（寿命试验I） JEITA ED-4701/100A:2013
JEITA ED-4701/ 200A：2013 半导体设备的环境耐受性测试方法（寿命试验II） 附件 203A
GB/T 2423.17-2008
GB/T 2423.3-2016
检测说明
本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。
