:片式固定电阻器检测

:片式固定电阻器检测：材料产品检测项目与标准依据说明，常见项目37项，包括引出端强度、电阻器主体强度等。

检测项目

力学性能

热学性能

电学性能

耐久性能

• 引出端强度
• 电阻器主体强度
• 端面镀层结合强度
• 附着力
• 弯曲强度试验
• 冲击
• 剪切力
• 交变湿热
• 干热
• 温升
• 温度快速变化
• 稳态湿热
• 耐焊接热
• 阻值随温度变化
• 上限类别温度耐久性
• 绝缘电阻
• 耐电压
• 直流电阻
• 耐久性
• ºC耐久性
• 外观检查
• 尺寸（量规检验）
• 尺寸
• 低气压
• 可焊性
• 寒冷
• 振动
• 碰撞
• 过载
• 阻值
• 制样镜检
• 外部目检
• 过载（适用G等级）
• 气候顺序
• 元件耐溶剂性
• 标志耐溶剂性
• 金相切片

检测范围

检测范围覆盖材料领域常见产品类型；样品数量、状态与预处理要求按所引标准执行。

检测方法

兆欧表法：施加规定直流电压测量绝缘电阻

绝缘电阻遥测法：评估湿热试验前后绝缘性能变化

静力压缩/弯曲试验：按规定速率加载，测定抗压强度、弯曲强度与挠度

摆锤冲击试验：测定冲击吸收功，评价材料韧性

低温冲击试验：在设定低温下进行冲击，评估韧脆转变行为

检测仪器

• 绝缘电阻测试仪（兆欧表）
• 直流高压发生器
• 万能材料试验机
• 压力试验机
• 抗折夹具
• 冲击试验机
• 低温槽
• 落锤冲击试验机

检测标准

常用标准与依据如下，所引标准如遇更新、替代或废止，以现行有效版本为准：

GB/T 9546-1995《IEC 60115-8:1989 电子设备用固定电阻器 第8部分:分规范:片式固定电阻器》

IEC 60115《电子设备用固定电阻器 第8部分:分规范:片式固定电阻器 -8:1989》

GJB4027A-2006 **电子元器件破坏性物理分析方法 工作项目0103第2.3条

GB/T 9546.8-2015《4.14 电子设备用固定电阻器 第8部分：分规范：表面安装固定电阻器》

GJB 1432B-2009 片式膜固定电阻器通用规范 4.5.2

IPC-TM- 650-2007 试验方法手册 IPC-TM-650-2007

2006 制样镜检

**电子元器件破坏性物理分析方法GJB4027A-2006工作项目0103第2.2条 外部目检

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。