带触点的集成电路卡及其相关接口设备测试方法检测
带触点的集成电路卡及其相关接口设备测试方法检测：常见项目6项，包括全部参数*、带触点的集成电路卡物理特性的测试方法等；适用标准以GB/T 17554.3等现行有。
检测项目
- 全部参数*
- 带触点的集成电路卡物理特性的测试方法
- 接口设备(IFD)物理和电气特性的测试方法
- 带触点的集成电路卡逻辑操作的测试方法
- 带触点的集成电路卡电气特性的测试方法
- IFD逻辑操作测试方法
检测范围
适用于工业产品领域常见产品与材料的送检；样品要求依适用标准规定，委托前可确认取样数量与状态。
检测方法
电气安全试验：测量绝缘、耐压、泄漏电流等安全指标
性能参数测试：测量电气参数与功能性能
检测仪器
- 耐压测试仪
- 绝缘电阻测试仪
- 数字万用表
检测标准
常见适用标准如下；标准存在更新或替代时，以委托时现行有效版本为准：
GB/T 17554.3-2006《带触点的集成电路卡物理特性的测试方法》
检测说明
本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。
