运算(电压)放大器检测

运算(电压)放大器检测:常见项目33项,包括开环电压增益、电源电压抑制比等,依据GB/T 17940等标准执行,判定以标准条款为准。

检测项目

电学性能

  • 开环电压增益
  • 电源电压抑制比
  • 输入偏置电流
  • 输入失调电压
  • 输入失调电流
  • 共模电压抑制比
  • 开环电压放大倍数
  • 最大输出电流
  • 输出峰-峰值电压
  • 输出电压最大变化率转换速率
  • 输出短路电流
  • 开环电压增益 A VD
  • 电源电压抑制比 K SVR
  • 输入偏置电流 I IB
  • 输入失调电压 V IO
  • 输入失调电流 I IO
  • 输出峰-峰电压 V OPP
  • 输出短路电流 I OS
  • 最大共模输入电压
  • 最大差模输入电压
  • 输出峰-峰电压
  • 输出电压转换速率
  • 静态电源电流
  • 开环电压放大倍数A VD
  • 输出电压范围V OPP
  • 最大输出电压V OPP
  • 输出高电平电压
  • 输出低电平电压
  • 共模抑制比
  • 静态功耗
  • 增益带宽乘积
  • 共模抑制比 K CMR
  • 静态功耗 P D

检测范围

适用于电子领域常见产品与材料的送检;样品要求依适用标准规定,委托前可确认取样数量与状态。

检测方法

频谱分析法/时域测量法:测量信号频谱特性与传输性能指标

检测仪器

  • 频谱分析仪
  • 示波器
  • 信号发生器
  • 网络分析仪

检测标准

常见适用标准如下;标准存在更新或替代时,以委托时现行有效版本为准:

GB/T 17940《半导体器件 集成电路第3部分:模拟集成电路》

SJ/T 10738-1996《半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理第2.1、2.3、2.5、2.6、2.7、2.8、2.11条》

QJ 2491-1993 半导体集成电路运算放大器测试方法 5.11

GB/T 17940-2000《半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成路》

QJ 2491-1993 半导体集成电路运算放大器测试方法 QJ 2491-1993

GJB 9147-2017 半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017

GJB 9147-2017 半导体集成电路运算放大器测试方法 5.9

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理,所引标准以现行有效版本为准。

微电路模块检测
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