双极晶体管检测

双极晶体管检测：电子领域检测服务，常见项目61项，包括间歇工作寿命（负载循环）、高温栅极偏置等，依据GB/T 29332-2012等公开标准执行。

检测项目

力学性能

间歇工作寿命（负载循环）

热学性能

电学性能

• 高温栅极偏置
• 高温阻断（HTRB）
• 结－壳热阻和结－壳瞬态热阻抗
• 高温阻断
• I B =0时的集电极发射极击穿电压 V (BR)CEO
• I B =0时的集电极发射极截止电流 I CEO
• I C =0时的发射极基极击穿电压 V (BR)EBO
• I C =0时的发射极基极截止电流 I EBO
• I E =0时的集电极基极击穿电压 V (BR)CBO
• I E =0时的集电极基极截止电流 I CBO
• 共发射极正向电流传输比的静态值h FE
• 共基极输出电容
• 基极发射极饱和电压 V BEsat
• 集电极发射极饱和电压 V CEsat
• 共发射极正向电流传输比的静态值h
• 基极发射极饱和电压
• 集电极发射极饱和电压
• 反向传输电容
• 最大集电极峰值电流
• 最大集电极电流
• 栅极漏电流
• 栅极－发射极阈值电压
• 输入电容
• 输出电容
• 集电极-发射极击穿电压
• 集电极截止电流
• 集电极－发射极电压
• 集电极－发射极短路时的栅极－发射极电压
• 集电极－发射极饱和电压
• 栅极-发射极阈值电压
• 集电极-发射极饱和电压
• f T 特征频率
• S-参数
• 上升时间 t r
• 下降时间 t f
• 关闭时间 t off
• 延迟时间 t d
• 开启时间 t on
• 贮存时间 t s
• 上升时间
• 下降时间
• 关闭时间
• 延迟时间
• 开启时间
• 贮存时间
• 关断期间的各时间间隔（td（off））
• tf
• toff
• tz和关断能量Eoff
• 开通期间的各时间间隔（td（on））
• tr
• ton和开通能量Eon
• 最大反偏安全工作区
• 最大短路安全工作区1
• 最大短路安全工作区2
• 栅极内阻
• 栅极电荷
• 关断期间的各时间间隔和关断能量
• 开通期间的各时间间隔和开通能量
• 最大短路安全工作区

检测范围

检测范围覆盖电子领域常见产品类型；样品数量、状态与预处理要求按所引标准执行。

检测方法

工频/直流耐压试验：按规定的升压速率施加电压，评价介质耐压能力

频谱分析法/时域测量法：测量信号频谱特性与传输性能指标

疲劳试验：施加交变载荷，测定疲劳寿命或S-N曲线

耐久性试验：模拟实际工况进行重复加载考核

检测仪器

• 耐压测试仪
• 击穿电压测试仪
• 频谱分析仪
• 示波器
• 信号发生器
• 网络分析仪
• 疲劳试验机
• 电液伺服试验机

检测标准

常用标准与依据如下，所引标准如遇更新、替代或废止，以现行有效版本为准：

GB/T 29332-2012

GB/T 4587-1994《半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管》

IEC 60747《-9 Ed. 2.0 :2007 半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT) 6.3.12》

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。