模拟集成电路检测

模拟集成电路检测：常见项目109项，包括调整输出电压温度系数、输入失调电压温度系数等；适用标准以GB/T 14028-2018等现行有效版本为准。

检测项目

热学性能

电学性能

• 调整输出电压温度系数
• 输入失调电压温度系数
• 输入失调电流温度系数
• 输入偏置电流温度系数
• 开环电压放大倍数
• 电压参数
• 电流参数
• 电源电压抑制比
• 偏置电压
• 共模输入电压范围
• 基准电压
• 备用电流（静态电流）
• 导通态电流
• 截止态电流
• 电源电流
• 输入偏置电流
• 输入失调电压
• 输入失调电流
• 输出电压最大变化率
• 输出电压范围
• 静态导通态电阻
• 输入失调电压和偏置电压
• 输入失调电流 两种方法
• 输入偏置电流 两种方法
• 开环电压放大倍数 两种方法
• 电源电流抑制比 两种方法
• 短路输出电流
• 复位电压
• 复位电流
• 导通态漏电流
• 导通电阻
• 导通电阻路差
• 开环电压增益
• 截止态源极漏电流
• 截止态漏极漏电流
• 控制端电压
• 电压调整率
• 电流调整率
• 触发电压
• 触发电流
• 输出峰峰电压
• 输出电压转换速率
• 输出短路电流
• 阈值电压
• 阈值电流
• 基准电压 V REF
• 备用消耗电流 I D
• 导通电阻 R on
• 差模开环电压增益 A VD
• 截止态漏极漏电流 I D（off）
• 电压调整率 S V
• 电流调整率 S I
• 电源电压抑制比 K SVR
• 输入偏置电流 I IB
• 输入失调电压 V IO
• 输入失调电流 I IO
• 输出峰-峰电压 V OPP
• 偏置电流 I bias
• 共摸输入电压范围
• 复位电压 V R
• 复位电流 I R
• 失调电压 V os
• 失调电流 I os
• 导通态漏电流 I DS(on )
• 截止态源级漏电流 I S(off)
• 截止态漏级漏电流 I D(off)
• 控制端电压 V C
• 模拟电压工作范围 V A
• 触发电压 V TR
• 触发电流 I TR
• 阀值电压 V T
• 阀值电流 I T
• 共摸输入电压范围V IC
• 共模输入电压V icm
• 导通态漏电流I DS（on）
• 导通电阻路差ΔR on
• 截止态源级漏电流I S（off）
• 截止态漏级漏电流I D（off）
• 正输入电流I b+
• 电压调整率Reg/ln
• 电流调整率Reg/ld
• 电源电压抑制比PSRR
• 负输入电流I b-
• 串扰衰减
• 共模抑制比
• 时间参数
• 纹波抑制比
• 调整/稳定系数
• 谐波失真
• 阻抗参数
• 频率参数
• 导通时间
• 截止时间
• 共模抑制比 两种方法
• 截止频率
• 关断时间
• 开启时间
• 满量程总误差
• 馈通误差
• 共模抑制比 K CMR
• 纹波抑制比 S rip
• 静态功耗 P D
• 共摸抑制比 k CMR
• 关断时间 t off
• 建立时间 t set
• 开启时间 t on
• 线性误差 E L
• 通道转换时间 t T
• 馈通误差 E F
• 共模抑制比CMRR
• 转换速率S R
• 响应时间

检测范围

适用于电子领域常见产品与材料的送检；样品要求依适用标准规定，委托前可确认取样数量与状态。

检测方法

频谱分析法/时域测量法：测量信号频谱特性与传输性能指标

检测仪器

• 频谱分析仪
• 示波器
• 信号发生器
• 网络分析仪

检测标准

常见适用标准如下；标准存在更新或替代时，以委托时现行有效版本为准：

GB/T 14028-2018《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 5.8》

GB/T 4377-2018《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 4.10》

GB/T 6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 4.5》

GB/T 17940-2000《半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路 Ⅳ 第二节 5》

GB/T 14029-1992《半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理 2.1》

GB/T 14030-1992《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 2.1》

IEC 748《-3:1986 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 第IV篇 第3节 6》

IEC 60748《(-3:1986) 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 第Ⅳ篇第2节18、第4节5》

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。