功率金属氧化物场效应管检测
功率金属氧化物场效应管检测：常见项目28项，包括稳态热阻、人体静电放电模式等，依据IEC 60747-8等标准执行，判定以标准条款为准。
检测项目
热学性能
稳态热阻
电学性能
- 人体静电放电模式
- 反向传输电容
- 机械静电放电模式
- 栅极串联等效电阻
- 栅极漏电流
- 漏极反向电流
- 漏源间反向击穿电压
- 输入电容
- 输出电容
- 通态电压
- 通态电阻
- 阈值电压
- 漏-源击穿电压V( BR ) DS
- 体二极管压降
- 体二极管反向恢复时间
- 体二极管反向恢复电荷
- 单脉冲雪崩能量
- 开关时间
- 栅极电荷
- 稳态功率试验
- 老炼试验
- 跨导
- 间歇功率试验
- 开通延迟时间t d ( on )
- 上升时间t r
- 关断延迟时间t d ( off )
- 下降时间t f
检测范围
适用于矿产冶金领域常见产品与材料的送检；样品要求依适用标准规定，委托前可确认取样数量与状态。
检测方法
工频/直流耐压试验：按规定的升压速率施加电压，评价介质耐压能力
表面/体积电阻测试：施加标准电压测量电阻值并换算电阻率
静电放电试验：模拟人体静电放电考核产品抗扰度
检测仪器
- 耐压测试仪
- 击穿电压测试仪
- 高阻计
- 表面电阻测试仪
- 静电放电发生器
检测标准
常见适用标准如下；标准存在更新或替代时，以委托时现行有效版本为准：
ANSI/ESD STM5.2-2012 器件级静电放电灵敏度测试-机械模式
IEC 60747《半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 -8:2010》
JESD22-A108F:2017 温度、反偏和操作寿命试验
MIL-STD-750F:2012 半导体测试方法测试标准 4011.4
JESD24-11:1996(R2002) 功率MOSFET栅极串联等效电阻测试方法
GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 3472
GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
MIL-STD- 750F:2012 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012
ANSI/ESDA/JEDEC JS-001-2017 器件级静电放电灵敏度测试-人体模式
检测说明
本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。
