复杂可编程逻辑器件检测

复杂可编程逻辑器件检测:电子领域检测服务,常见项目20项,包括动态电源电流VCCSB、输入低电平电压VIL等,依据GB/T 17574-1998等公开标准执行。

检测项目

电学性能

  • 动态电源电流VCCSB
  • 输入低电平电压VIL
  • 输入高电平电压VIH
  • 输出低电平电压VOL
  • 输出高电平电压VOH
  • 静态电源电流VCCOP
  • 输出高阻态电流I OZH
  • 输出高阻态电流I OZL
  • 输入高电平电流I IH
  • 输入低电平电流I IL
  • 输入低电平电压V
  • 输出高电平电压V
  • 输出低电平电压V
  • 传输时间
  • 保持时间
  • 分辨时间
  • 建立时间
  • 输入漏流II
  • 输出阻态漏流IOZ
  • 传输时间t PD

检测范围

检测范围覆盖电子领域常见产品类型;样品数量、状态与预处理要求按所引标准执行。

检测标准

常用标准与依据如下,所引标准如遇更新、替代或废止,以现行有效版本为准:

GB/T 17574-1998《半导体集成电路 第2部分:数字集成电路》

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理,所引标准以现行有效版本为准。

元件检测
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