运算（电压）放大器检测
运算（电压）放大器检测：电子领域检测服务，常见项目33项，包括开环电压增益、电源电压抑制比等，依据GB/T 17940等公开标准执行。
检测项目
电学性能
- 开环电压增益
- 电源电压抑制比
- 输入偏置电流
- 输入失调电压
- 输入失调电流
- 共模电压抑制比
- 开环电压放大倍数
- 最大输出电流
- 输出峰-峰值电压
- 输出电压最大变化率转换速率
- 输出短路电流
- 开环电压增益 A VD
- 电源电压抑制比 K SVR
- 输入偏置电流 I IB
- 输入失调电压 V IO
- 输入失调电流 I IO
- 输出峰-峰电压 V OPP
- 输出短路电流 I OS
- 最大共模输入电压
- 最大差模输入电压
- 输出峰-峰电压
- 输出电压转换速率
- 静态电源电流
- 开环电压放大倍数A VD
- 输出电压范围V OPP
- 最大输出电压V OPP
- 输出高电平电压
- 输出低电平电压
- 共模抑制比
- 静态功耗
- 增益带宽乘积
- 共模抑制比 K CMR
- 静态功耗 P D
检测范围
检测范围覆盖电子领域常见产品类型；样品数量、状态与预处理要求按所引标准执行。
检测方法
频谱分析法/时域测量法：测量信号频谱特性与传输性能指标
检测仪器
- 频谱分析仪
- 示波器
- 信号发生器
- 网络分析仪
检测标准
常用标准与依据如下，所引标准如遇更新、替代或废止，以现行有效版本为准：
GB/T 17940《半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路》
SJ/T 10738-1996《半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理第2.1、2.3、2.5、2.6、2.7、2.8、2.11条》
QJ 2491-1993 半导体集成电路运算放大器测试方法 5.11
GB/T 17940-2000《半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成路》
QJ 2491-1993 半导体集成电路运算放大器测试方法 QJ 2491-1993
GJB 9147-2017 半导体集成电路运算放大器测试方法 GJB 9147-2017
GJB 9147-2017 半导体集成电路运算放大器测试方法 5.9
检测说明
本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。
