达林顿晶体管阵列检测

达林顿晶体管阵列检测：常见项目10项，包括寿命试验、共发射极正向电流传输比等，依据GB/T 4587-1994等标准执行，判定以标准条款为准。

检测项目

力学性能

寿命试验

电学性能

基极-发射极饱和压降

• 共发射极正向电流传输比
• 发射极-基极击截止电流
• 最大发射极-基极电压
• 最大集电极-发射极电压
• 最大集电极-基极电压
• 集电极-发射极截止电流
• 集电极-发射极饱和电压
• 集电极-基极截止电流

检测范围

适用于电子领域常见产品与材料的送检；样品要求依适用标准规定，委托前可确认取样数量与状态。

检测方法

疲劳试验：施加交变载荷，测定疲劳寿命或S-N曲线

耐久性试验：模拟实际工况进行重复加载考核

X射线衍射法（XRD）：测定物相组成与晶体结构

检测仪器

• 疲劳试验机
• 电液伺服试验机
• X射线衍射仪

检测标准

常见适用标准如下；标准存在更新或替代时，以委托时现行有效版本为准：

GB/T 4587-1994《半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管》

GJB 128A-1997 《半导体分立器件试验方法》 /方法1042

GJB 128A-1997 《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。