扫描电子显微镜检查SEM检测

扫描电子显微镜检查SEM检测：常见项目1项，包括扫描电子显微镜检查SEM，具体项目以委托确认与适用标准为准。

检测项目

扫描电子显微镜检查SEM

检测范围

适用于电子领域常见产品与材料的送检；样品要求依适用标准规定，委托前可确认取样数量与状态。

检测方法

电气安全试验：测量绝缘、耐压、泄漏电流等安全指标

性能参数测试：测量电气参数与功能性能

检测仪器

• 耐压测试仪
• 绝缘电阻测试仪
• 数字万用表

检测标准

常见适用标准如下；标准存在更新或替代时，以委托时现行有效版本为准：

MIL-STD-1580B 电气、电子和机电元器件破坏性物理分析方法

GJB4027A-2006 **电子元器件破坏性物理分析方法

GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法2077

PEM-INST-001 塑封微电路选择、筛选及鉴定程序 方法5.3.9

MIL-STD-883K 微电子器件试验方法和程序 方法2018

GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法2018.1

MIL-STD-750F 半导体分立器件试验方法和程序 方法2077

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。