光电子器件检测

光电子器件检测：常见项目104项，包括光发射器件的半强度角和角偏差、半强度角等；适用标准以GB/T 15651.3等现行有效版本为准。

检测项目

力学性能

热学性能

电学性能

耐久性能

• 光发射器件的半强度角和角偏差
• 半强度角
• 发光二极管发光强度
• 发光强度
• 平均寿命
• 引出端强度
• 机械冲击
• 相对噪声强度
• 红外发射二极管的辐射强度
• 辐射强度
• 光通量结温特性曲线
• 参考热阻
• 最高允许结温
• 温度变化
• 温度快速变化
• 湿热循环
• 稳态湿热
• 结到管壳的热阻
• 耐焊接热
• 高温贮存
• 电流传输比
• 集电极-发射极暗电流
• 集电极-发射极饱和电压
• 集电极-基极暗电流
• 光照下的集电极电流
• 光电流
• 反向电流和反向电压
• 反向电流
• 发射-集电极击穿电压
• 发射极-基极击穿电压
• 噪声电流
• 总电容
• 暗电流
• 最大允许电流/电压
• 正向电压
• 正向电流传输比的静态值
• 正向电流
• 浪涌隔离电压
• 电容（光敏二极管）
• 辐射功率或正向电流
• 输入-输出电容
• 输入和输出之间的隔离电阻
• 连续或重复峰值隔离电压
• 阈值电流
• 集电极-发射极维持电压
• 集电极-基极击穿电压
• 集电极-基极截止电流
• 静电耐受性
• 集电极-发射极截止电流
• 输入-输出间隔离电阻
• 标志耐久性
• 电耐久性
• 宽度和像散
• 发射源尺寸
• 外形尺寸
• 尺寸
• 关断时间
• 开通时间
• PIN光电二极管的噪声
• S 11 参数
• 不带尾纤的激光二极管发射源的高度
• 低气压
• 倍增因子
• 光强分布和光束角
• 光谱线宽
• 光谱辐射带宽
• 光辐射带宽
• 频谱辐射带宽
• 光通维持率
• 光通量/光效
• 光通量
• 其它电和光
• 其它电和光特性
• 功率
• 可焊性
• 噪声等效功率
• 外部目检
• 密封
• 小信号截止频率
• 局部放电
• 峰值发射波长
• 平均颜色特性
• 开关时间
• 恒定加速度
• 截止频率
• 振动
• 标志
• 电和光极限值的验证
• 电和光特性
• 等效的加速应力试验
• 纵模数
• 纵模数目
• 角偏差
• 象散
• 跟踪误差
• 载流子与噪声比
• 辐射功率
• 辐射图
• 过剩噪声因子
• 过剩噪声系数
• 隔离试验
• 颜色均匀性
• 颜色漂移
• 光耦合器的开关时间

检测范围

适用于电子领域常见产品与材料的送检；样品要求依适用标准规定，委托前可确认取样数量与状态。

检测方法

工频/直流耐压试验：按规定的升压速率施加电压，评价介质耐压能力

表面/体积电阻测试：施加标准电压测量电阻值并换算电阻率

静电放电试验：模拟人体静电放电考核产品抗扰度

频谱分析法/时域测量法：测量信号频谱特性与传输性能指标

检测仪器

• 耐压测试仪
• 击穿电压测试仪
• 高阻计
• 表面电阻测试仪
• 静电放电发生器
• 频谱分析仪
• 示波器
• 信号发生器
• 网络分析仪

检测标准

常见适用标准如下；标准存在更新或替代时，以委托时现行有效版本为准：

GB/T 15651.3-2003《半导体器件分立器件和集成电路 第5-3部分 光电子器件测试方法 5.7》

GB/T 12565-1990《附录D表D2光耦合器 半导体器件光电子器件分规范》

GB/T 15651-1995《半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件 第IV章 2.4》

IEC 747《-5:1992、第IV章3.7 半导体器件 分立器件和集成电路第5部分：光电子器件》

QB/T 4057-2010《普通照明用发光二极管 性能要求 表 5》

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。