CMOS电路检测

CMOS电路检测：常见项目49项，包括温度循环、电源电流等，依据GB/T 17574-1998等标准执行，判定以标准条款为准。

检测项目

热学性能

温度循环

电学性能

• 电源电流
• 输入低电平电压
• 输入低电平电流
• 输入钳位电压
• 输入高电平电压
• 输入高电平电流
• 输出低电平电压
• 输出低电平电流
• 输出高电平电压
• 输出高电平电流
• 输出高阻态时低电平电流
• 输出高阻态时高电平电流
• 输入低电平电流IIL
• 输入高电平电流IIH
• 输出低电平电压VOL
• 输出高电平电压VOH
• 输出高阻态电流IOZ
• 静态条件下的电源电流IDD
• 输出短路电流
• 动态条件下的总电源电流
• 输入阈值电压和滞后电压
• 输入高电平电流和输入低电平电流
• 输出高电平电压和输出低电平电压
• 输出高阻态电流
• 静态条件下的电源电流
• 输入钳位电压V IK
• 输出低电平电流I OL
• 输出短路电流I OS
• 输出高电平电流I OH
• 静态条件下的电源电流I CC
• 输入高电平电压VIH
• 输入低电平电压VIL
• 电源电流IDD
• 输出低阻态时低电平电流I OZL
• 输出高阻态时高电平电流I OZH
• 输出高阻态时低电平电流I OZL
• 输入出低电平电压V IL
• 功能测试
• 传输时间
• 功能
• 延迟时间和转换时间
• 输出由低电平到高电平传输延迟时间t PLH
• 输出由高电平到低电平传输延迟时间t PHL
• 密封
• 恒定加速度
• 稳定性烘焙
• 粒子碰撞噪声检测试验
• 老炼试验

检测范围

适用于环境领域常见产品与材料的送检；样品要求依适用标准规定，委托前可确认取样数量与状态。

检测方法

密封性能试验：加压或抽真空检漏，评价密封等级

外壳防护试验：按IP等级进行淋水、扬尘等考核

声压级测量：在规定测点与工况下测量噪声声压级

检测仪器

• 气密性检漏仪
• 氦质谱检漏仪
• 淋雨试验箱
• 砂尘试验箱
• 声级计
• 声校准器

检测标准

常见适用标准如下；标准存在更新或替代时，以委托时现行有效版本为准：

GJB548B--2005 微电子器件试验方法和程序 第4.5节 方法5005.2

SJ/T 10741-2000《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

GB/T 17574-1998《半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路》

GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序 方法 1014.2

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。