太阳电池用硅单晶检测

太阳电池用硅单晶检测：电子领域检测服务，常见项目11项，包括导电类型、径向电阻率变化等，依据GB/T 1554-2009等公开标准执行。

检测项目

电学性能

化学性能

• 导电类型
• 径向电阻率变化
• 电阻率
• 氧含量
• 碳含量
• 直径
• 表面质量
• 直径及允许误差
• 晶体完整性
• 晶向及晶向离度
• 晶向

检测范围

检测范围覆盖电子领域常见产品类型；样品数量、状态与预处理要求按所引标准执行。

检测方法

电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）：同时测定多种金属元素含量

滴定分析法：用于钙、镁等常量元素的容量法测定

表面/体积电阻测试：施加标准电压测量电阻值并换算电阻率

静电放电试验：模拟人体静电放电考核产品抗扰度

检测仪器

• 电感耦合等离子体发射光谱仪
• 自动电位滴定仪
• 分析天平
• 高阻计
• 表面电阻测试仪
• 静电放电发生器

检测标准

常用标准与依据如下，所引标准如遇更新、替代或废止，以现行有效版本为准：

GB/T 1554-2009《硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法》

GB/T 25076-2010《太阳电池用硅单晶》

GB/T 1555-2009《半导体单晶晶向测定方法》

GB/T 1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》

GB/T 14140-2009《硅片直径测量方法》

GB/T 1550-2018《非本征半导体材料导电类型测试方法》

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。