电子连接器和插座检测

电子连接器和插座检测：电子领域检测服务，常见项目19项，包括冷热冲击试验、高温试验（温度寿命）等，依据公开标准执行。

检测项目

力学性能

热学性能

电学性能

化学性能

盐雾试验

耐久性能

外观与尺寸检验

• 冷热冲击试验
• 高温试验（温度寿命）
• 低温试验
• 温升测试
• 低电平接触电阻
• 绝缘电阻
• 耐电压
• 耐久性测试
• 连接器耐久性试验
• 保持力测试
• 振动试验
• 插拔力测试
• 湿度试验
• 瞬断检测
• 衰减测试
• 驻波比测试
• 混合流动气体试验

检测范围

检测范围覆盖电子领域常见产品类型；样品数量、状态与预处理要求按所引标准执行。

检测方法

兆欧表法：施加规定直流电压测量绝缘电阻

绝缘电阻遥测法：评估湿热试验前后绝缘性能变化

摆锤冲击试验：测定冲击吸收功，评价材料韧性

低温冲击试验：在设定低温下进行冲击，评估韧脆转变行为

检测仪器

• 绝缘电阻测试仪（兆欧表）
• 直流高压发生器
• 冲击试验机
• 低温槽
• 落锤冲击试验机

检测标准

常用标准与依据如下，所引标准如遇更新、替代或废止，以现行有效版本为准：

EIA-364-46C-2012(R2019) 电子连接器、端子和插座的瞬断（微秒瞬断）测试程序

EIA-364-29D-2019 电子连接器的保持力测试程序

EIA-364-09D-2018 电子连接器和插座的耐久性测试程序

EIA-364-32G-2014 电子连接器和插座的冷热冲击（温度循环）测试程序

EIA-364-106-2000(R2019) 电子连接器的驻波比率测试程序

EIA-364-59A-2006(R2013) 电子连接器和插座低温测试程序

EIA- 364-65B：2009 电子连接器和插座的混合流动气体试验程序 EIA-364-65B：2009

EIA-364-13E-2011 (R2017) 电子连接器和插座间插拔力

EIA- 364-09C-1999 TP-09C 电子连接器及端子的耐久性试验程序 EIA-364-09C-1999(R2006)

EIA-364-20F-2019 电子连接器、插座和同轴触点的耐电压测试程序

EIA-364-101-2000(R2019) 电子连接器、插座、线束或互联系统的衰减测试程序

EIA-364-70C-2014 电子连接器与插座的温升与电流测试程序

EIA-364-17C-2011(R2017) 电子连接器和插座的温度寿命测试（带载或不带载）程序

EIA-364-21F-2020 电子连接器、插座和同轴触点的绝缘电阻测试程序

EIA-364-18B-2007（R2012) 电子连接器和插座的外观与尺寸检验测试程序

EIA-364-28F-2011（R2017) 电子连接器和插座的振动测试程序

EIA-364-23C-2006(R2017) 电子连接器和插座的低电平接触电阻测试程序

EIA-364-31F-2019 电子连接器和插座的湿度测试程序

EIA-364-09C-1999(R2006) TP-09C 电子连接器及端子的耐久性试验程序

EIA-364-26C-2014 电子连接器、端子和插座的盐雾测试程序

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。