用于便携设备的密封二次电芯或电池检测

用于便携设备的密封二次电芯或电池检测：电子领域检测服务，常见项目51项，包括机械冲击(锂体系）、机械冲击(镍体系）等，依据公开标准执行。

检测项目

力学性能

热学性能

电学性能

• 机械冲击（锂体系）
• 机械冲击（镍体系）
• 外壳高温应力
• 热滥用
• 高低温循环
• 温度循环（锂体系）
• 温度循环（镍体系）
• 热误用（镍体系）
• 热误用（电芯）（锂体系）
• 高温下模制壳体应力（锂体系）
• 高温下模制壳体应力（镍体系）
• 单体电池的外部加热试验
• 单体电池的热滥用
• 持续低电流充电
• 绝缘和接线
• 电芯不正确安装 (镍系)
• 跌落
• 锂系过充测试
• 锂系高倍率充电
• 镍系过充测试
• 不正确安装（镍体系）
• 低倍率持续充电（镍体系）
• 低气压（锂体系）
• 低气压（镍体系）
• 含电池设备的跌落（电池）（锂体系）
• 外部短路（镍体系）
• 外部短路（电池）（锂体系）
• 外部短路（电芯）（锂体系）
• 强制内部短路测试（电芯）（锂体系）
• 强制放电（镍体系）
• 强制放电（电芯）（锂体系）
• 挤压（镍体系）
• 挤压（电芯）（锂体系）
• 振动（锂体系）
• 振动（镍体系）
• 电池的过充电（锂体系）
• 电芯的过充电（锂体系）
• 自由跌落（锂体系）
• 自由跌落（镍体系）
• 过充电（镍体系）
• 过充电保护（电池）（锂体系）
• 连续恒压充电（锂体系）
• 高倍率充电（锂体系）
• 单体电池的外部短路
• 单体电池的挤压
• 电池外部短路
• 电池组的跌落试验
• 电池过充电保护
• 单体电池强制内部短路
• 电池组外部短路
• 电池组过充电保护

检测范围

检测范围覆盖电子领域常见产品类型；样品数量、状态与预处理要求按所引标准执行。

检测方法

原子吸收光谱法（AAS）：测定样品中铅、镉、汞、砷等重金属元素含量

电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）：多元素同时测定，适用于基体复杂样品

原子荧光光谱法（AFS）：用于砷、汞、硒等易氢化元素的高灵敏测定

电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）：同时测定多种金属元素含量

滴定分析法：用于钙、镁等常量元素的容量法测定

检测仪器

• 原子吸收光谱仪
• 电感耦合等离子体发射光谱仪
• 原子荧光光谱仪
• 微波消解仪
• 分析天平
• 自动电位滴定仪

检测标准

常用标准与依据如下，所引标准如遇更新、替代或废止，以现行有效版本为准：

JIS C 8712: 2015 用于便携设备的密封二次电芯或电池-安全要求 JIS C 8712: 2015

JIS C 8714(2007) 用于便携设备的小型锂离子蓄电池和蓄电池组的安全测试 5.5

JIS C 8712: 2015 用于便携设备的密封二次电芯或电池-安全要求 7.3.1

JIS C 8714 用于便携设备的小型锂离子蓄电池和蓄电池组的安全测试 JIS C 8714(2007)

JIS C 8714: 2007 用于便携设备的密封二次电芯或电池安全要求 5.4

JIS C 8712:2006 用于便携设备的密封二次电芯或电池-安全要求 4.2.3

JIS C 8714: 2007 用于便携设备的密封二次电芯或电池安全要求 JIS C 8714: 2007

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。