贵金属制品检测

贵金属制品检测：矿产冶金领域检测服务，常见项目46项，包括银含量、贵金属含量等，依据GB/T 18043-2008等公开标准执行。

检测项目

化学性能

重量偏差

硒、碲、钯、铁、铅、铋、铜、锑

• 银含量
• 贵金属含量
• 金含量
• 钯含量
• 铂含量
• 钯饰品合金成分
• 贵金属材料及含量
• 杂质元素含量
• 贵金属材料及纯度
• 铂纯度
• 纯度
• 工艺质量
• 密度
• 指环尺寸
• 质量允差
• 银覆盖层厚度
• 首饰金覆盖层厚度
• 贵金属质量
• 外观（工艺）质量
• 质量
• 外观
• 银覆盖层厚度的标识
• 饰品尺寸
• 命名规则
• 定性分析
• 抽样规则
• 有害元素
• 标识
• 镍释放量
• 金 铂 钯
• 金 银 铂 钯
• 金层含金量
• 钯 铂
• 钯 铑 铱 钌 金 银 铜 铁 镍 铝 铅 锰 铬 镁 锡 硅 锌 铋
• 饰品中的有害元素
• 金属材料类型(Ni、Cu、Zn、Pb等)
• Au
• Ag
• Pt
• Pd
• 金覆盖层的标识
• 产品标识
• 标识（印记及标签）
• 足金 足银饰品

检测范围

检测范围覆盖矿产冶金领域常见产品类型；样品数量、状态与预处理要求按所引标准执行。

检测方法

原子吸收光谱法（AAS）：测定样品中铅、镉、汞、砷等重金属元素含量

电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）：多元素同时测定，适用于基体复杂样品

原子荧光光谱法（AFS）：用于砷、汞、硒等易氢化元素的高灵敏测定

电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）：同时测定多种金属元素含量

滴定分析法：用于钙、镁等常量元素的容量法测定

检测仪器

• 原子吸收光谱仪
• 电感耦合等离子体发射光谱仪
• 原子荧光光谱仪
• 微波消解仪
• 分析天平
• 自动电位滴定仪

检测标准

常用标准与依据如下，所引标准如遇更新、替代或废止，以现行有效版本为准：

QB/T 1690-2004《贵金属饰品质量测量允差的规定》

YS/T 958-2014《银化学分析方法 铜、铋、铁、铅、锑、钯、硒和碲量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法》

GB/T 18043-2008《首饰 贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法》

GB/T 11067.1-2006《银化学分析方法 银量的测定 氯化银沉淀-火焰原子吸收光谱法》

GB/T 25934.2-2010《高纯金化学分析方法 第2部分：ICP-MS-标准加入校正-内标法 测定杂质元素的含量》

GB/T 28485-2012《+A1:2009 镀层饰品 镍释放量的测定 磨损和腐蚀模拟法》

EN 12472《+A1:2009 镀层饰品 镍释放量的测定 磨损和腐蚀模拟法》

GB/T 15249.3-2009《合质金化学分析方法 第3部分：铜量的测定 碘量法》

YS/T 646.1-2017《铂化合物分析方法 第1部分：铂量的测定 高锰酸钾电流滴定法》

GB/T 9288-2019《金合金首饰 金含量的测定 灰吹法》

ISO 11426《金合金首饰 金含量的测定 灰吹法》

ISO 11426-2014《金合金首饰 金含量的测定 灰吹法》

GB/T 17832-2021《银合金首饰 银含量的测定 溴化钾容量法(电位滴定法) :2014(E)》（E）

ISO 11427《银合金首饰 银含量的测定 溴化钾容量法(电位滴定法) :2014(E)》（E）

GB/T 40114-2021《首饰 贵金属含量的测定 ICP 差减法》

QB/T 2855-2007《首饰 贵金属含量的无损检测密度综合法》

GB/T 19720-2005《Pt、Pd》

GB/T 15249.2-2009《合质金化学分析方法 第2部分：银量的测定 火试金重量法和EDTA滴定法》

GB/T 2828.4-2008《计数抽样检验程序 第4部分：声称质量水平的评定程序 6.2》

ISO 11427-2014《银合金首饰 银含量的测定溴化钾容量法（电位滴定法）》

GB/T 11067.6-2006《银化学分析方法 铁量的测定 火焰原子吸收光谱法》

GB/T 28021-2011《饰品 有害元素的测定 光谱法》

GB/T 18307-2001《粗银化学分析方法》

GB/T 11886-2015《银合金首饰 银含量的测定 伏尔哈特法》

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。

贵金属制品检测针对矿产冶金领域产品与材料的关键指标进行测试与评价，常见项目11项，包括银含量、贵金属含量等，判定依据为相应标准条款。

贵金属制品检测针对矿产冶金领域产品与材料的关键指标进行测试与评价，常见项目56项，包括贵金属含量、金含量等，判定依据为相应标准条款。