识别卡.检测

识别卡.检测：材料产品检测项目与标准依据说明，常见项目138项，包括剥离强度、动态弯曲应力等。

检测项目

力学性能

热学性能

电学性能

化学性能

耐久性能

• 剥离强度
• 动态弯曲应力
• 弯曲韧性
• 物理特性——剥离强度
• 物理特性——动态弯曲
• 物理特性——弯曲韧性
• 物理特性——粘结或并块
• 物理特性——触点机械强度
• 卡的剥离强度要求
• 卡的弯曲韧性要求
• 弯曲性质要求
• 在温度和湿度条件下卡尺寸的稳定性和翘曲
• 抗热度
• 物理特性——工作温度
• 物理特性——抗热度
• 物理特性——温湿条件下的尺寸稳定性和翘曲稳定性
• 温度和湿度条件下卡尺寸的稳定性和翘曲
• 耐温湿度
• 抗热性
• IFD逻辑操作ICC复位(热复位)要求
• 冷复位和热复位应答要求
• 卡抗热度要求
• 工作温度要求
• 物理特性——触点的电阻
• 物理特性——静电
• (触点的)电阻要求
• 带触点集成电路卡触点的表面电阻
• 带触点集成电路卡静电
• 耐化学性
• 物理特性——耐化学性
• 紫外线
• 物理特性——紫外光
• 卡的耐久性要求
• 卡的尺寸
• 触点的尺寸
• 卡号长度及结构
• 物理特性——卡的厚度
• 物理特性——卡的尺寸
• 物理特性——触点的尺寸和位置
• 卡尺寸
• 卡的尺寸要求
• 带触点集成电路卡触点的尺寸和位置
• 翘曲度
• X射线
• 动态扭曲应力
• 卡的材料
• 卡的构造
• 卡的特性
• 卡翘曲
• 可燃性
• 字符凸印的起伏高度
• 物理特性
• 粘连和并块
• 触点的分配
• 触点的数量和位置
• 静磁场
• 个人账号
• 发卡机构识别卡
• 发卡行标识代码
• 应用主账号的格式
• 数据元
• 校验位
• 校验数字
• 物理特性——全卡翘曲
• 物理特性——动态扭曲
• 物理特性——卡边缘
• 物理特性——字符凸印的起伏高度
• 物理特性——表面畸变
• 物理特性——触点表面轮廓度
• 物理特性——阻光度
• 物理特性——静磁场
• 磁道1结构和数据内容
• 磁道2结构和数据内容
• 磁道3结构和数据内容
• 自定义位
• A类操作的选择要求
• CLK触点要求
• IC卡字符等待时间(CWT)特性要求
• IC卡对协议差错的反应要求
• IC卡对接口设备超过字符等待时间(CWT)的反应要求
• IC卡的块时序要求
• ID-1型卡的最多字符数第三磁道
• IFD放弃要求
• IFD逻辑操作ICC复位(冷复位)要求
• IFD逻辑操作T=0协议
• IFD逻辑操作T=1协议
• IFD对ICC超过字符等待时间(CWT)的反应要求
• IFD的块时序要求
• IFD的字符等待时间(CWT)特性要求
• IFSC协商要求
• 块保护时间(BGT)要求
• 由IFD传送差错的恢复要求
• 通过ICC终止要求
• IFD逻辑操作复位应答(ATR)
• IFD逻辑操作符合T=0协议IO发送时序要求
• IFD逻辑操作符合T=0协议IO字符重发要求
• IFD逻辑操作符合T=0协议的IO接收时序和错误信号要求
• IFD逻辑操作符合T=1协议
• IO发送时序要求
• IFD逻辑操作符合T=1协议的IO接收时序要求
• IFSD协商要求
• IO触点要求
• RST触点要求
• VCC触点要求
• VPP触点要求
• 全卡翘曲要求
• 卡的光照要求
• 卡的有毒性要求
• 卡的材料要求
• 卡的构造要求
• 卡的粘连和并块要求
• 卡的翘曲
• 卡的阻光度要求
• 卡表面畸形要求
• 奇偶校验
• 带触点集成电路卡电气特性CLK触点
• 带触点集成电路卡电气特性IO触点
• 带触点集成电路卡电气特性RST触点
• 带触点集成电路卡电气特性VCC触点
• 带触点集成电路卡电气特性VPP触点
• 带触点集成电路卡触点的表面轮廓
• 带触点集成电路卡逻辑操作T=1协议
• 带触点集成电路卡逻辑操作复位应答(ATR)
• 带触点集成电路逻辑操作卡T=0协议
• 扭曲性质要求
• 接口设备CLK触点要求
• 接口设备IO触点要求
• 接口设备RST触点要求
• 接口设备VCC触点要求
• 接口设备VPP触点要求
• 接口设备物理和电气特性CLK触点
• 接口设备物理和电气特性IO触点
• 接口设备物理和电气特性RST触点
• 接口设备物理和电气特性VCC触点
• 接口设备物理和电气特性VPP触点
• 接口设备物理和电气特性触点停活
• 接口设备物理和电气特性触点激活
• 接口设备触点停活要求

检测范围

检测范围覆盖材料领域常见产品类型；样品数量、状态与预处理要求按所引标准执行。

检测方法

表面/体积电阻测试：施加标准电压测量电阻值并换算电阻率

静电放电试验：模拟人体静电放电考核产品抗扰度

频谱分析法/时域测量法：测量信号频谱特性与传输性能指标

静力压缩/弯曲试验：按规定速率加载，测定抗压强度、弯曲强度与挠度

检测仪器

• 高阻计
• 表面电阻测试仪
• 静电放电发生器
• 频谱分析仪
• 示波器
• 信号发生器
• 网络分析仪
• 万能材料试验机
• 压力试验机
• 抗折夹具

检测标准

常用标准与依据如下，所引标准如遇更新、替代或废止，以现行有效版本为准：

GB/T 16649.2-2006《ISO/-2:1999 识别卡带触点的集成电路卡第2 部分:触点的尺寸和位置 5》

IEC 7816《ISO/-2:1999 识别卡带触点的集成电路卡第2 部分:触点的尺寸和位置 5》

GB/T 17554.3-2006《ISOIEC 10373-3:2001 识别卡 测试方法 第3 部分：带触点的集成电路卡及相关接口设备 9.2》

GB/T 16649.1-2006《识别卡 带触点的集成电路卡 第1部分:物理特性 4》

GB/T 16649.3-2006《ISOIEC 7816-3:1997 识别卡 带触点的集成电路卡 第3部分：电信号和传输协议 4.3.2》

IEC 10373《ISO/-1: 2006/Amd.1:2012 识别卡 测试方法 第1部分：一般特性 补丁1 5.22》

IEC 7810《ISO/: 2003/Amd.2:2012 识别卡 物理特性 补丁2：阻光度 all》

IEC 7812《ISO/-1: 2017 识别卡 发卡方标识 第1部分：编号系统 4.3》

GB/T 15120.2-2012《ISOIEC 7811-2:2001 识别卡 记录技术 第2部分：磁条 9.3.3》

GB/T 14916-2006《:2003 识别卡 物理特性 5》

JR/T 0008-2000 银行卡发卡行标识代码及卡号 4

GB/T 17554.1-2006《识别卡 测试方法 第一部分：一般特性测试》

GB/T 17552-2008《信息技术 - 识别卡 - 金融交易卡 7.4》

检测说明

本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。