金属及其合金材料半导体及非导体材料检测
金属及其合金材料、半导体及非导体材料检测：常见项目1项，包括碳、硫等，依据GB/T 23275-2009等标准执行，判定以标准条款为准。
检测项目
碳、硫、锂、铍、硼、氟、钠、镁、铝、锗、磷、氯、钾、钙、钪、钛、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜、锌、镓、砷、硒、溴、铷、锶、钇、锆、铌、钼、钌、铑、钯、银、镉、铟、锡、锑、碲、碘、铯、钡、镧、铈、镨、钕、钐、铕、钆、铽、镝、钬、铒、铥、镱、镥、铪、钽、钨、铼、锇、铱、铂、金、汞、铊、铅、铋、钍、铀
检测范围
适用于材料领域常见产品与材料的送检；样品要求依适用标准规定，委托前可确认取样数量与状态。
检测方法
原子吸收光谱法（AAS）：测定样品中铅、镉、汞、砷等重金属元素含量
电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）：多元素同时测定，适用于基体复杂样品
原子荧光光谱法（AFS）：用于砷、汞、硒等易氢化元素的高灵敏测定
电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）：同时测定多种金属元素含量
滴定分析法：用于钙、镁等常量元素的容量法测定
检测仪器
- 原子吸收光谱仪
- 电感耦合等离子体发射光谱仪
- 原子荧光光谱仪
- 微波消解仪
- 分析天平
- 自动电位滴定仪
检测标准
常见适用标准如下；标准存在更新或替代时，以委托时现行有效版本为准：
GB/T 23275-2009《钌粉化学分析方法 铅、铁、镍、铝、铜、银、金、铂、铱、钯、铑、硅量的测定 辉光放电质谱法》
GB/T 32651-2016《采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法》
ASTM F1845-08（2016） 使用高质量分辨率辉光放电质谱仪测量电子级铝铜、铝硅和铝铜硅中痕量金属杂质的测试方法
GB/T 20123-2006《钢铁 总碳硫含量的测定 高频感应炉燃烧后红外吸收法(常规方法)》
ISO 15350《钢铁 总碳硫含量的测定 高频感应炉燃烧后红外吸收法(常规方法)》
ASTM F2405-04（2011） 使用高质量分辨率辉光放电质谱仪测量高纯度铜中痕量金属杂质的测试方法
ISO/TS 15338-2020 表面化学分析-辉光放电质谱法-操作规程
ASTM F1710-08（2016） 使用高质量分辨率辉光放电质谱仪测定电子级钛中痕量金属杂质的测试方法
ASTM F1593-08（2016） 使用高质量分辨率辉光放电质谱仪测定电子级铝中痕量金属杂质的测试方法
检测说明
本页内容依据公开发布标准与公开资料整理，所引标准以现行有效版本为准。
